

XDAL® 237 是一款兼顧高精度與自動化的全能型 X 射線測厚儀,特別適合對超薄涂層和低含量材料有嚴格測量要求的行業(yè),如電子半導體、貴金屬加工和制造業(yè)。其模塊化設計和靈活配置選項使其能夠適應各種復雜測量任務,是質(zhì)量控制和研發(fā)實驗室的理想選擇。
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